Urządzenie do efektu Hall

Zaawansowana platforma charakterystyki transportu elektrycznego

DX -3000 to wielofunkcyjna platforma testowa zaprojektowana do kompleksowej analizy właściwości transportu elektrycznego. Łączy efekt Halla, Magnetorezystancję i Charakterystykę IV w jednym zintegrowanym systemie. Optymalizując wybór oprzyrządowania i eliminując ręczne złożoności okablowania (konfiguracja pomieszczenia/niskiej temperatury), usprawnia pozyskiwanie danych w celu precyzji i powtarzalności. Kompatybilny z elektromagnetami lub magnesami nadprzewodzącymi (konfigurowalny użytkownika), obsługuje sondy inteligentne próbki i konfigurowalne oprogramowanie do szybkich, zautomatyzowanych pomiarów.

• Wydajny przepływ pracy: Modułowe karty próbek umożliwiają szybką instalację (obsługuje 2–4 próbki jednocześnie z dodatkami).
• Szeroki zakres pomiaru: Analiza rezystancyjna z 0. 1MΩ do 100GΩ (rozszerzalne za pomocą modułów wysokiego napięcia/impedancji).
• Testowanie adaptacyjne: Programowalne parametry prądu/pola magnetycznego do oceny dynamicznej hali i oporności.
• Wizualizacja w czasie rzeczywistym: Zautomatyzowane oprogramowanie generuje wyniki pośrednie, krzywe (IV, RT, RH) i parametry końcowe (gęstość nośnika, mobilność, opór arkusza).
• Elastyczność magnetyczna: Stabilizacja zerowego pola, długoterminowa stabilność pola i szybka kontrola pola poprzez zintegrowane mierniki Gaussa.
• Wszechstronność temperatury: Opcjonalne moduły kriogeniczne (1,6k - 800k) dla zmiennych badań środowiskowych.

• Półprzewodniki: Sige, Ingaas, HGCDTE, SIC, Algaas itp.
• Filmy przewodzące: Metale, struktury TMR, przezroczyste tlenki.
• Podłoża o wysokiej impedancji: Półinakowanie GAAS, CDTE, Gan.

1. Analiza efektu Hall:
   Wyjścia: rezystywność, współczynnik hali, rodzaj/stężenie nośnika, mobilność.
2. Profilowanie magnetoodoporności:
   Metryki: δR, δR/R%, RH krzywe.
3. Charakterystyka dynamiczna:
   Mapowanie IV w zmiennych temperaturach/polach.
   Oporność zależna od temperatury (RT) w ustalonych polach.

Moduły elektryczne: Keithley Precision Instruments (obecne źródła, nanovoltmeters, macierze przełączników).

Opcje magnesu:

• Dx -100: 1,5 tys. MAX (biegun 60 mm, ± 1% jednorodności).
• Dx -130: Maksymalny 2,5 t (biegun 100 mm).
• Dx -180: 2,7t max (biegun 120 mm).

Kontrola termiczna(Fakultatywny):

Ciekły azot (80–500 k), kriostaty (4–325 tys.), Kompaktowe lodówki (45–325 tys.).

Wymiary próbki:

• Małe/sondy: 12x12 mm² do 30 x 30 mm².
• Duże karty: 50 x 50 mm².

Limity elektryczne:

• Prąd: ± 100PA - 100MA (rozdzielczość: 100PA).
• Napięcie: ± {{0}}. 1 μV - 30V (rozdzielczość: 0,1 μV).
• Gęstość nośnika maksymalnego: 1 × 10¹⁸ cm⁻³.

Kryteria dokładności:

• Niepewność pola/grubości<1%.
• Optymalny współczynnik pola b/grubości: 1 t/mm.

• Przygotowanie próbki: Obsługa 4-/6- konfiguracje drutu.
• Oprogramowanie: Pełna automatyzacja za pomocą rejestrowania danych, dopasowaniem krzywej i ekstrakcji parametrów.
• Zgodność: Niskie zużycie energii (<1mV sample excitation).

Półprzewodnik badań i rozwoju, badania materiałów magnetycznych, walidacja urządzeń cienkiego filmu i zaawansowane materiały.

(Uwaga: niestandardowe konfiguracje dostępne dla istniejących konfiguracji laboratoryjnych lub wyspecjalizowanych wymagań.)